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Product CategorySuperViewW1光學(xué)鏡片表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
中圖儀器光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀可以測(cè)到12mm,也可以測(cè)到更小的尺寸,XY載物臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達(dá)亞微米級(jí)別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um,Z向掃描電機(jī)可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達(dá)0.1nm級(jí)別,因此可測(cè)非常微小尺寸的器件。
中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達(dá)0.1nm,測(cè)量單個(gè)精密器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測(cè)。可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。
SuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)三維表面形貌儀價(jià)格實(shí)惠,提供二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計(jì)算、曲率計(jì)算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等功能。
中圖三維光學(xué)表面輪廓儀品牌采用白光軸向色差原理,利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)制成的SuperViewW1是一種用于對(duì)樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維檢測(cè)的精密儀器,它的特點(diǎn)是可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度。測(cè)量范圍從納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的表面形貌,可以快速獲取數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè),主要用于成品質(zhì)量的管理,確保良品合格率。
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